A.可見光
B.電子空穴對
C.熒光
D.正電子
E.低能X射線
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你可能感興趣的試題
A.非晶硒
B.非晶硅
C.光激勵熒光體
D.光電倍增管
E.CCD
A.CCD相機
B.非晶硅
C.非晶硒
D.光電二極管
E.閃爍體
A.影像板
B.平板探測器
C.光敏照相機
D.平面回波序列
E.直接數(shù)字X線攝影
A.1mR
B.10mR
C.100mR
D.1000mR
E.10000mR
A.IPC
B.IRC
C.IRD
D.EDR
E.PSP
A.照片特性曲線
B.增感屏特性曲線
C.IP特性曲線
D.光激勵熒光物的特性曲線
E.FPD特性曲線
A.1:102
B.1:103
C.1:104
D.1:105
E.1:106
A.影像記錄裝置
B.曝光數(shù)據(jù)識別器
C.薄膜晶體管陣列
D.光電倍增管
E.曝光指示器
A.100~200nm
B.390~490nm
C.290~390nm
D.200~300nm
E.190~290nm
A.使用高能射線照射
B.使用電流消除殘存電荷
C.使用顯影液、定影液重寫
D.使用清水沖洗
E.使用強光照射消除數(shù)據(jù)
最新試題
CR系統(tǒng)中,直接記錄X線影像信息的載體是()
光激勵熒光體中,為改變熒光體的結(jié)構(gòu)和物理特性,常摻入的是()
DR探測器可用的是()
CR的缺點有()
傳統(tǒng)X射線攝影其量子檢測效率僅為()
在CR的四象限理論中,對圖像進行放大處理,對應(yīng)在()
間接DR中,位于FPD頂層的是()
關(guān)于CR的信息采集敘述錯誤的是()
關(guān)于該平板探測器的敘述錯誤的是()
直接FPD可以由()直接獲得像素位置信息